惠普4278A電容計HP4278A

4278A技術(shù)指標：
4278A測量參數(shù) C-D，Q，ESR，G 
4278A測試信號 
4278A頻率： 1kHz和1MHz±0.02% 
HP4278A信號電平： 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進 
HP4278A測量時間： 6.5ms/10ms/21ms(典型值） 
HP4278A測量范圍 測量參數(shù) 1kHz 1MHz正常模式
1MHz*** 
4278A電纜長度補償 0,1或2m 
Agilent 4278A比較器：對電容的10倉室分類，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試 
存儲卡插槽 外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設(shè)置和比較極限進行分類和調(diào)用
（存儲卡可任選，參見下面的選件004）。 
4278A一般技術(shù)指標Agilent 4278A
測量速度:6.5ms/10ms/21ms 
測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G 
C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 
0.05%,0.0002(1MHz,21ms) 
Agilent 4278A詳細資料：
HP4278A測量速度:6.5ms/10ms/21ms 
HP4278A測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G 
C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)

技術(shù)指標：
測量參數(shù)
C-D，Q，ESR，G
測試信號
頻率：
1kHz和1MHz±0.02%
信號電平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進
測量時間：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
測量范圍
測量參數(shù)
1kHz
1MHz正常模式
1MHz***
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
電纜長度補償
0,1或2m

比較器：
HP4278A對電容的10倉室分類，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試
HP4278A存儲卡插槽
HP4278A外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設(shè)置和比較極限進行分類和調(diào)用（存儲卡可任選HP4278A參見下面的選件
gilent 4278A 1kHz/1MHz電容測試儀是一臺高速高可靠的***測試儀器，用于生
HP4278A產(chǎn)線和質(zhì)量控制中作電容器的進出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電
HP4278A容器的測試效率（可測量以200μF，這個電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值）。 
HP4278A一般技術(shù)指標：
HP4278A工作溫度/濕度
5°~45℃，在40℃時相對濕度為95%

電源
100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V 
Amax
尺寸
約426mm(寬）*177mm(高）*498mm(長）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)
重量：
約15kg(33磅，標準） 

***回收各類進口電子儀器儀表如：NI 、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時利）、、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GW INSTEK （固緯）

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