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產(chǎn)地：美國(guó)
主要特點(diǎn)：
1)X-7600SDD/LE 在帶有二次靶技術(shù)的能量色散型X射線熒光分析儀領(lǐng)域中，引進(jìn)專利技術(shù)，重新定義了“{zxj}”的概念,使得元素周期表中所有元素的檢測(cè)都能得到{zj0}結(jié)果。
2)為分析調(diào)查和開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供了高性能的解決方案，同時(shí)，為商業(yè)實(shí)驗(yàn)室分析提供了一種低成本、{gx}益的選擇。
3)以高精度、sub-ppm檢測(cè)精度為特色，在環(huán)保、地質(zhì)和貴金屬檢測(cè)領(lǐng)域中，不管是輕元素還是重元素分析，X-7600SDD LE與其他分析儀器相比都具有更加{zy1}的檢測(cè)性能；
4)提高了輕元素例如F、Ne、Na的檢測(cè)精度；
5)SDD 探測(cè)器具有電子噪音低和高計(jì)數(shù)率的特點(diǎn)，與Si-PIN 探測(cè)器相比，SDD 探測(cè)器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析結(jié)果；
6)8 個(gè)二次靶為快速jq的定量分析提供了{(lán)zd0}程度的靈敏度，甚至是像合金、塑料、地質(zhì)這樣復(fù)雜的基質(zhì)中。wq自定義的二次靶使得檢測(cè)結(jié)果能達(dá)到sub-ppm 級(jí)別；
7)能夠分析液體、固體、泥漿、粉末、片狀物體等。并且分析樣品室能夠滿足不用形狀和尺寸樣品的需要；
8)10個(gè)位置的自動(dòng)進(jìn)樣器整體設(shè)計(jì)允許了{(lán)zd1}限度的操作員干預(yù)、自動(dòng)加載以及無(wú)人照管操作；
9)該儀器檢測(cè)快速，精準(zhǔn)，使用方便。它具有堅(jiān)固的計(jì)算機(jī)硬件和強(qiáng)大的fxrj能檢測(cè)限低；
10)多通道采集分辨率為改良過(guò)的探測(cè)器提供優(yōu)質(zhì)的峰與峰的比率。
技術(shù)參數(shù)：
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測(cè)量能力
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測(cè)量范圍
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C(6)－Fm（100）
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元素含量分析范圍
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ppm - {bfb}（在指定應(yīng)用領(lǐng)域中）
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X光管
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X光源
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Rh – 陽(yáng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)
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X-射線電壓
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60kV, 400W.
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激發(fā)模式
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二次靶激發(fā)模式
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穩(wěn)定性
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室溫條件下jq到0.1%
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X光探測(cè)器
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探測(cè)器
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硅鋰探測(cè)器（SDD），避免使用液態(tài)氮
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分辨率
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136 eV ± 5eV at 5.9 keV
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窗口
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Be
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特性
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自動(dòng)成樣
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10個(gè)位置
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工作條件
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空氣/真空/氦氣
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濾光片
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8款可選的軟件
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二次靶
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8款可選的軟件: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd.
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電源
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115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz
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脈沖加工
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多信道分析
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光學(xué)
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專利 WaG ? (廣角幾何)
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尺寸（L×W×H，cm）
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85×85×105(不含包裝)，145×95×135（含包裝）
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重量
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170Kg（凈重），200Kg(總重)
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樣品室尺寸
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直徑28cm,高5cm
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電腦
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集成 pc
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軟件
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操作軟件
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nEXt，運(yùn)行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及fxrj包外加初級(jí)基本參數(shù)算法
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控制
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樣品激發(fā)，探測(cè)，樣品操控，數(shù)據(jù)采集及處理的自動(dòng)控制
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光譜處理
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逃逸峰及背底的自動(dòng)去除，自動(dòng)重疊峰解析，圖解式統(tǒng)計(jì)報(bào)告
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定量分析算法
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考慮共存元素效應(yīng)的多元素回歸法（六種模式）?？傆?jì)數(shù)，凈計(jì)數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。
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報(bào)告
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用戶可自定的數(shù)據(jù)報(bào)表及打印形式
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