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汽車車載芯片、集成電路AEC-Q100認(rèn)證,專業(yè)汽車級(jí)集成IC認(rèn)證機(jī)構(gòu)

作者:廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司 來源:aqinlovely 發(fā)布時(shí)間:2019-04-29 瀏覽:512
汽車車載芯片、集成電路AEC-Q100認(rèn)證,專業(yè)汽車級(jí)集成IC認(rèn)證機(jī)構(gòu)

汽車車載芯片、集成電路AEC-Q100認(rèn)證


AEC-Q100認(rèn)證是什么?


      AEC-Q100是基于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理。
      如果成功完成根據(jù)本文件各要點(diǎn)需要的測(cè)試結(jié)果,那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過了AEC Q100 認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商,可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些,但是只有完成要求實(shí)現(xiàn)的時(shí)候才能認(rèn)為零件通過了AEC Q100 認(rèn)證。

零件工作溫度等級(jí)定義如下:
0 等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-150℃
1 等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-125℃
2 等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-105℃
3 等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-85℃
4 等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍0℃-70℃

AEC-Q100認(rèn)證的要求及目的

2.測(cè)試樣品:

1)批次要求:測(cè)試樣品應(yīng)該由認(rèn)證家族中有代表性的器件構(gòu)成,由于缺少通用數(shù)據(jù)就需要有多批次的測(cè)試,表1 中列出的測(cè)試樣品必須是由非連續(xù)晶圓批次中近似均等的數(shù)量組成,并在非連續(xù)成型批次中裝配。即樣品在生產(chǎn)廠里必須是分散的,或者裝配加工線至少有一個(gè)非認(rèn)證批次;

2)生產(chǎn)要求:所有認(rèn)證器件都應(yīng)在制造場(chǎng)所加工處理,有助于量產(chǎn)時(shí)零件的傳輸。其他電測(cè)試場(chǎng)所可以在其電性質(zhì)證實(shí)有效后用于電測(cè)量。

3)測(cè)試樣品的再利用:已經(jīng)用來做非破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件可以用來做其他認(rèn)證測(cè)試,而做過破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件則除了工程分析外不能再使用;

4)樣品尺寸要求
用于認(rèn)證測(cè)試的樣品尺寸與(或)提交的通用數(shù)據(jù)必須與表1中指定的最小樣品尺寸和接受標(biāo)準(zhǔn)相一致。如果供應(yīng)商選擇使用通用數(shù)據(jù)來認(rèn)證,則特殊的測(cè)試條件和結(jié)果必須記錄并對(duì)使用者有可用性?,F(xiàn)有可用的通用數(shù)據(jù)應(yīng)首先滿足這些要求和表1的每個(gè)測(cè)試要求。如果通用數(shù)據(jù)不能滿足這些要求,就要進(jìn)行器件特殊認(rèn)證測(cè)試。

5)預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后要求:表1中的附加要求欄為每個(gè)測(cè)試指定了終端測(cè)試溫度(室溫、高溫和低溫)。溫度特殊值必須設(shè)有最差情況,即每個(gè)測(cè)試中用至少一個(gè)批次的
通用數(shù)據(jù)和器件特殊數(shù)據(jù)來設(shè)置溫度等級(jí)極端。

6)應(yīng)力測(cè)試失效后的定義:
測(cè)試失效定義為設(shè)備不符合測(cè)試的器件規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,或是供應(yīng)商的數(shù)據(jù)表,任何由于環(huán)境測(cè)試導(dǎo)致的外部物理破壞的器件也要被認(rèn)為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和使用者認(rèn)為是非正確運(yùn)轉(zhuǎn)、靜電放電或一些其他與測(cè)試條件不相關(guān)的原因,失效就算不上,但作為數(shù)據(jù)提交的一部份上報(bào)。

AEC-Q100試驗(yàn)后元器件失效分析項(xiàng)目:

①形貌分析技術(shù):體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。

②成分檢測(cè)技術(shù):X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜

③電分析技術(shù):I-V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。

④開封制樣技術(shù):化學(xué)開封、機(jī)械開封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片。

⑤缺陷定位技術(shù):液晶熱點(diǎn)、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH。

        (GRGT)定位行業(yè)gd,yl行業(yè)先鋒,歷經(jīng)近50年的發(fā)展,目前成為一家技術(shù)精湛、精心、管理精細(xì)的{yl}的計(jì)量檢測(cè)專業(yè)機(jī)構(gòu)。       

       GRGT是原國(guó)家信息產(chǎn)業(yè)部軍工電子602計(jì)量測(cè)試站,通過國(guó)家實(shí)驗(yàn)室(CNAS)、國(guó)防實(shí)驗(yàn)室(DILAC)和總裝實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可,并通過中國(guó)計(jì)量認(rèn)證(CMA),是中國(guó)CB實(shí)驗(yàn)室,建立企業(yè)計(jì)量{zg}標(biāo)準(zhǔn)80多項(xiàng),通過CNAS、DILAC認(rèn)可項(xiàng)目1000多項(xiàng)。



車載芯片、集成電路AEC-Q100認(rèn)證業(yè)務(wù)代表:
張海鵬(業(yè)務(wù)經(jīng)理)186-2090-8348(微信同號(hào))
zhanghp@

 

鄭重聲明:資訊 【汽車車載芯片、集成電路AEC-Q100認(rèn)證,專業(yè)汽車級(jí)集成IC認(rèn)證機(jī)構(gòu)】由 廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司 發(fā)布,版權(quán)歸原作者及其所在單位,其原創(chuàng)性以及文中陳述文字和內(nèi)容未經(jīng)(企業(yè)庫www.scsong.cn)證實(shí),請(qǐng)讀者僅作參考,并請(qǐng)自行核實(shí)相關(guān)內(nèi)容。若本文有侵犯到您的版權(quán), 請(qǐng)你提供相關(guān)證明及申請(qǐng)并與我們聯(lián)系(qiyeku # qq.com)或【在線投訴】,我們審核后將會(huì)盡快處理。
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